一、测试服务包括：
老化测试
沛顿依靠高效的老化测试设备提供老化测试服务，包含监控老化(MBI)、动态老化(DBI)和测试(TDBI)。老化服务能涵盖到当前所有产品，包括内存芯片(DRAM)、系统级封装芯片(SIP)、嵌入式存储芯片(eMCP)。现有老化设备可支持 -10 °C 到125 °C的温度区间。
终测
沛顿为DRAM、Flash类产品提供终测服务，现有自动测试机能测试到最新一代高速、高容量的存储芯片，包含标准型DDR4以及嵌入式LPDDR4。
自动测试机可支持 -55 °C 到125 °C的温度区间。
激光打标 / 外观检测
客户商标和追溯码将由激光打标机刻在产品表面，使产品拥有完整的制造追溯信息。我们的自动外观扫描机将严格保证芯片在出货前达到客户期望对芯片尺寸和锡球特性的品质要求。
设备品牌 设备类别 可应用产品 EO 激光打印机 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP 大族 激光打印机 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP 惠特 激光打印机 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP ICOS 外观检测机 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP INTEKPLUS 外观检测机 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP Vitrox 外观检测机 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP
包装
沛顿拥有完整的包装线，提供烘烤(125 ℃)、真空包装、卷带包装服务，以及代客出货至客户或终端客户。
二、测试机台能力
自动测试机：
类别 设备品牌 设备型号 适用产品 存储器 爱德万 H5620 DDR3, DDR4, LPDDR4 爱德万 HSM8G DDR4, LPDDR4, DDR5, LPDDR5 爱德万 T5503HS2 DDR4, LPDDR4, DDR5, LPDDR5 爱德万 T5503HS DDR3, DDR4, LPDDR3, LPDDR4 爱德万 T5503A DDR3, eMCP(LPDDR2/3) 爱德万 T5588 DDR3, DDR4, eMCP(LPDDR2), MCP(LPDDR2/NAND), LPDDR4 爱德万 T5593 eMCP(LPDDR2) DI AF8652 DDR3, DDR4, eMCP, eMMC 鸿劲 HT3309 eMMC/eMCP Flash 鸿劲 HT3350 SSD 逻辑&混合信号 致茂 3380D Logic & Mixed-signal
自动机械手：
类别 设备品牌 设备型号 适用产品 成品测试 爱德万 M6242 BGA, CSP, LGA, TSOP 爱德万 M6542 BGA, CSP, LGA, TSOP Techwing TW350H BGA, CSP, LGA, TSOP 沛顿(自制) PH01 Strip of LGA/BGA
三、测试工程能力
●提供完整的测试方案，以及在客户协助下转化测试程序。
●按客户要求提供标准工程样品相关性分析。
●对异常批次展开电子失效模式分析、物理失效模式分析以确定失效模式。
●自动化系统能最最大程度预防人为作业错误，也提高生产效率。
●提供内存芯片的验证测试服务。
四、设计能力
●老化板设计
●测试板设计
●自动测试机测试应用板设计
●各类机械手配合治具设计
